能量色散X射线荧光光谱仪使用X射线照射样品，测量所产生的荧光X射线的能量（波长）和强度，以确定样品中元素组成的种类和含量。由于X射线荧光光谱法可以非破坏性分析固体、粉末、液体样品，也可以快速、非破坏性的测试印刷电路板和其他电子设备中有害元素，因此被广泛用于全球的电子电气和汽车制造企业，应用于符合欧盟RoHS/ ELV指令的检查和质量控制。
X射线荧光分析法的原理、特点：
X射线荧光的产生原理：
X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。
满足所有领域不同的应用：
1.电子、电气
RoHS指令、无卤素等筛选分析
半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析
2.汽车、机械
应对ELV指令的筛选分析
各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测
3.钢铁、非金属
原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析
炉渣的组成分析
4.矿业
选矿工艺的成色鉴别分析
5.窑业
陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析
6.石油、石油化学
油中硫元素的分析
润滑油中各种添加元素及混入元素的分析
7.化学工业
无机、有机原料和产品分析
催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析
8.环境
土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析
9.医药
合成时的残留催化剂分析
原药中不纯物分析、异物分析
10.农业、食品
土壤、肥料、植物的分析
食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析
11.其它
考古学样品及宝石成分分析
玩具、日用品中有害重金属元素测定等
有设计感的外观：
460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室
460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。
而紧凑的机身，却拥有最大可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。
识别度高的LED显示灯：
产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。
为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。
凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。
简洁的界面：
在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
在测定界面上可以直接切换准直器：
可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。
同时，选定的直径用黄色圆圈表示。
自动保存样品图像：
测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。
测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。
同样适用于连续分析：
PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。
可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。
无与伦比的分析性能：
采用高性能的SDD检测器，确保硬件正确化，具有前所未有的高灵敏度·高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000）。
高灵敏度–提高检测下限1.5～5倍：
高性能的SDD检测器与正确化的光学系统和一次滤光片的组合，实现前所未有的高灵敏度。
从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。
高速–分析速度最大可提高10倍：
SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到很好的发挥。
X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。
搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。
高分辨率：
与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。
无需液氮：
SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。
检测元素范围：

用EDX-7000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。
用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。
EDX-8000进行超轻元素分析：
EDX-8000搭载的SDD检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。

能量色散X射线荧光光谱仪使用X射线照射样品，测量所产生的荧光X射线的能量（波长）和强度，以确定样品中元素组成的种类和含量。由于X射线荧光光谱法可以非破坏性分析固体、粉末、液体样品，也可以快速、非破坏性的测试印刷电路板和其他电子设备中有害元素，因此被广泛用于全球的电子电气和汽车制造企业，应用于符合欧盟RoHS/ ELV指令的检查和质量控制。
出色的通用性：
从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。
配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。
4种准直器以及CCD样品观察装置：
1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换：
根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。
微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。
标配CCD样品观察装置：
通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。
适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。
自动切换5种一次滤光片：
使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。
EDX-7000/8000搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。

准直器和一次滤光片自由组合：
准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。
同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。

样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理：
分析只需4 Step！
遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准
以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理
通过X射线荧光可以实现对杂质的分析
主要特长：
遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准：
遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。
安全功能
用户管理功能
操作日志，逐位跟踪日志的生成功能
PDF生成功能
验证功能
使用EDX-7000/8000，轻松实现对医药品中的金属进行分析：